GDS/KDY-1A便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀(成套) GDSKDT-1 B探頭

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產品名稱: GDS/KDY-1A便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀(成套) GDSKDT-1 B探頭

產品型號: GDS/KDY-1A

產品展商: ghitest

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簡單介紹

1、半導體材料電阻率的及標準測試方法。 2、測量厚度大於4倍探針間距的矽晶體，也可測量薄矽片電阻率及方阻。 3、電阻率測量範圍複蓋常用的區段：0.01—199.9Ω·cm 。

GDS/KDY-1A便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀(成套) GDSKDT-1 B探頭 的詳細介紹

產品簡介

1、半導體材料電阻率的及標準測試方法。
2、測量厚度大於4倍探針間距的矽晶體，也可測量薄矽片電阻率及方阻。
3、電阻率測量範圍複蓋常用的區段：0.01—199.9Ω·cm 。
     方塊電阻測量範圍複蓋常用的區段：0.1—1999Ω/□。
4、配置高精度恒流源，測量電流穩定，分兩檔：1mA、10mA，每檔**在大範圍內調節（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、測量精度高：電器測量精度優於0.3%；
     整機測量誤差：測量1-100Ω·cm的標準矽片誤差≤±3%。
     測量大於100Ω·cm和小於1Ω·cm的標準矽片誤差≤±5%。
6、重量輕，約2.5kg；體積小：240×210×100（mm）。
7、可配用多種探針間距的四探針頭：1.00mm、1.59mm。

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