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ZH8202高頻光電導壽命測試儀/高頻光電導少子壽命測試儀（學校用） - 北京5G影院天天看天天爽科技有限公司




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      產品資料

      ZH8202高頻光電導壽命測試儀/高頻光電導少子壽命測試儀（學校用）

      如果您對該產品感興趣的話,可以
      產品名稱: ZH8202高頻光電導壽命測試儀/高頻光電導少子壽命測試儀（學校用）
      產品型號: ZH8202
      產品展商: ghitest
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      簡單介紹

      τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配數字示波器;用於矽、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平麵外，對樣塊體形*嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質汙染及缺陷存在的情況，是單晶質的重要檢測項目。


      ZH8202高頻光電導壽命測試儀/高頻光電導少子壽命測試儀（學校用）  的詳細介紹
      產品簡介:
      τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配數字示波器;用於矽、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平麵外，對樣塊體形*嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質汙染及缺陷存在的情況，是單晶質的重要檢測項目。
      設備組成
      1.光脈衝發生裝置:
      重複頻率>25次/s
      脈    寬>60μｓ
      光脈衝關斷時間＜1μｓ
      紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量矽單晶）
      脈衝電流：5A～20A
      如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
      2.高頻源:
      頻    率：30MHz低輸出阻抗
      輸出功率>1W
      放大器和檢波器:
      頻率響應：2Hz～2MHz
      3.配用示波器：
      配用示波器：頻帶寬度不低於10MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續可調。
      測量範圍：
      可測矽單晶的電阻率範圍：ρ≥0.1Ω·㎝（歐姆·厘米）
      壽命值的測量範圍：5～6000μｓ（微秒）
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