GDW3-LT-1A型高頻光電導少子壽命測試儀

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產品名稱: GDW3-LT-1A型高頻光電導少子壽命測試儀

產品型號: GDW3-LT-1A

產品展商: ghitest

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簡單介紹

用於矽、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平麵外，對樣塊體形*嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質汙染及缺陷存在的情況，是單晶的重要檢測項目。

GDW3-LT-1A型高頻光電導少子壽命測試儀 的詳細介紹

用於矽、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平麵外，對樣塊體形*嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質汙染及缺陷存在的情況，是單晶的重要檢測項目。
2、設備組成
2.1、光脈衝發生裝置
重複頻率＞25次/s      脈寬＞60μｓ          光脈衝關斷時間＜0.2-1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量矽單晶）   脈衝電流：5A～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
2.2、高頻源
頻率：30MHz       低輸出阻抗      輸出功率＞1W
2.3、放大器和檢波器
頻率響應：2Hz～2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器：頻帶寬度不低於40MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續可調。
3、測量範圍
LT-1可測矽單晶的電阻率範圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量範圍：5～6000μｓ